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北京歐屹科技有限公司

主營:應力雙折射測量系統(tǒng),空芯光纖,超快激光加工系統(tǒng),Bump晶圓測量,3D檢測系統(tǒng),無掩膜光刻機,飛秒激光器,皮秒激光器,納米壓痕儀

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  • 玻璃脈理檢測儀
    玻璃脈理檢測儀

    玻璃脈理檢測儀 玻璃脈理檢測儀基于“紋影法”的脈理測試設備專門用于明確檢測玻璃內部及表面各種細微的折射率變化與光學不均勻性 。 產品簡介 基于紋影法的玻璃脈理檢測系統(tǒng) 在現(xiàn)代光學元件、激光器玻璃及精密測量領域,微小的內部折射率不均勻(脈理)會導致圖像畸變、光線分布不均或透光誤差,嚴重損害產品性能 。由于這類缺陷在普通透射光下幾乎無法被肉眼或常規(guī)設備察覺 ;凇凹y影法”的脈理測試設備專門用于明

    2026-05-25 面議/套
  • 應力雙折射系統(tǒng)PA系列
    應力雙折射系統(tǒng)PA系列

    應力雙折射系統(tǒng)PA系列 PA系列是Photonic lattice公司采用自研的光子晶體技術,針對玻璃、SIC晶圓、藍寶石等低應力雙折射的測量系統(tǒng),數秒給出被測產品的應力雙折射大小和分布信息。 產品簡介 PA 系列是Photonic Lattice, Inc.針對高雙折射的透明材料開發(fā)的光學測量設備,通過核心的偏光圖像傳感器, 可以快速準確的測量透明材料的應力雙折射,針對不同產品尺寸,均有可

    2026-05-12 面議/臺
  • 應力雙折射系統(tǒng)WPA系列
    應力雙折射系統(tǒng)WPA系列

    應力雙折射系統(tǒng)WPA系列 WPA系列是Photonic lattice公司采用自研的光子晶體技術,開發(fā)的一款適用性高的應力雙折射檢測設備,可測量相位差(光程差)高達3500nm,適合注塑成型的透光器件的應力雙折射檢測,高速而的測量能力受到各大光學廠和研究機構的青睞。數秒給出被測產品的應力雙折射大小和分布信息。 產品說明 WPA 系列是Photonic Lattice, Inc.針對高雙折射的

    2026-05-12 面議/臺
  • 單圈反諧振空芯光纖
    單圈反諧振空芯光纖

    產品特點 (一)可覆蓋深紫外-中紅外傳輸窗口。 (二)低傳輸損耗、寬傳輸帶寬。 (三)低光學非線性、低色散。 (四)準單模傳輸、高激光損傷閾值。 產品參數 物理特性 光纖材料 純石英 涂覆材料 丙烯酸脂(單涂) 纖芯直徑[μm] ~25 包層孔直徑[μm] ~12 裸纖外徑[μm] ~145 涂覆外徑[μm]

    2025-11-10 面議/米
  • 光子帶隙空芯光纖
    光子帶隙空芯光纖

    產品特點 ????(一)覆蓋可見-中紅外傳輸窗口。 ????(二)低傳輸損耗、低彎曲損耗、低光學非線性。 ????(三)色散可調諧。 ????(四)準單模傳輸。 ? 產品參數 物理特性 光纖材料 純石英 涂敷材料 丙烯酸酯(單涂) 纖芯直徑[μm] ~14 裸纖外徑[μm] ~145 涂敷外徑[μm] ~360

    2025-11-10 面議/米
  • 雙折射測量儀PA-Micro
    雙折射測量儀PA-Micro

    Photonic lattice? ? PA-Micro PA系列以每秒500萬像素的高分辨率高速測量雙折射和相位差,測量范圍為0至130納米,適用于低相位差玻璃制品等目標的測量。 ? 特點主要 : 操作簡單,測量速度可以快到3秒。 視野范圍內可一次測量,測量范圍廣。 更直觀的一體讀取數據,無遺漏數據點。 具有多種分析功能和測量結果的比較。 維護簡單,不含旋轉光學濾片的機構。

    2023-07-14 0
  • 非接觸式三維測量儀
    非接觸式三維測量儀

    三維形貌測量儀NH系列 日本Mitaka(三鷹光器)三維形貌測量儀NH系列,使用激光自動對焦技術在半導體工業(yè)和超精密加工領域得到廣泛應用。通過光學非接觸式的測量,可以全自動并高精度的測量工件的三維形貌。 品牌簡介 日本mitakakohki(三鷹光器)將深耕多年天文和醫(yī)學領域精密光學技術,應用于工業(yè)領域。 使用激光自動對焦的非接觸式三維測量設備在半導體工業(yè)和超精密加工領域得到廣泛應用。 ?

    2022-03-04 面議/臺
  • 白光共聚焦顯微鏡
    白光共聚焦顯微鏡

    激光白光共聚焦顯微鏡 日本Lasertec公司推出了Optelics Hybrid 混合共焦顯微鏡,將激光和白光源組合在一體,用于多功能高性能共聚顯微鏡.兩組共焦光學器件與附加器件相結合,包括干涉儀,微分干涉對比觀察和光譜反射膜厚度測量儀。 品牌簡介 日本Lasertec是一家半導體檢測設備的公司,成立于1960年,主要提供半導體(晶圓/光罩)與LCD檢測設備,與美國半導體設備廠商KLA具有

    2022-03-04 面議/臺
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